• 檢測電容表面字符及劃傷缺陷

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      案例說明:普通光源高角度直射到樣品上時,其表面會存在反光干擾,亮度不均勻。采樣條光兩側低角度打光,偏振鏡同時配合使用,可......

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  • 檢測元器件破損

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      案例說明:使用低角度環光暗場照明,樣品表面為黑色,目標特征即破損區域被打亮??墒褂霉庠矗篐L-R90-75-W...

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  • 檢測芯片平坦度

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      案例說明:使用背光照射,被測物輪廓黑白分明,或使用高角度環光將表面均勻打亮,與背景明顯區別,輪廓清晰??墒褂霉庠矗篐L-BK......

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  • 銅線夾爪定位

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      案例說明:條光低角度照射,暗視場下,夾爪和銅線被打亮,和黑色背景明顯區別開來??墒褂霉庠矗篐L-LN-200-W...

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  • 識別電池外膜上的二維碼

    識別電池外膜上的二維碼

      案例說明:對于圓弧面上的黃色膜體,與之色系相同的紅色碗光和紅色同軸配合使用,可將其均勻打亮,黑色二維碼清晰顯現??墒褂霉?.....

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