• 检测电容表面字符及划伤缺陷

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      案例说明:普通光源高角度直射到样品上时,其表面会存在反光干扰,亮度不均匀。采样条光两侧低角度打光,偏振镜同时配合使用,可......

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  • 检测元器件破损

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      案例说明:使用低角度环光暗场照明,样品表面为黑色,目标特征即破损区域被打亮??墒褂霉庠矗篐L-R90-75-W...

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  • 检测芯片平坦度

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      案例说明:使用背光照射,被测物轮廓黑白分明,或使用高角度环光将表面均匀打亮,与背景明显区别,轮廓清晰??墒褂霉庠矗篐L-BK......

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  • 铜线夹爪定位

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      案例说明:条光低角度照射,暗视场下,夹爪和铜线被打亮,和黑色背景明显区别开来??墒褂霉庠矗篐L-LN-200-W...

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  • 识别电池外膜上的二维码

    识别电池外膜上的二维码

      案例说明:对于圆弧面上的黄色膜体,与之色系相同的红色碗光和红色同轴配合使用,可将其均匀打亮,黑色二维码清晰显现??墒褂霉?.....

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