檢測芯片平坦度


  • 檢測芯片平坦度

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案例說明:使用背光照射,被測物輪廓黑白分明,或使用高角度環光將表面均勻打亮,與背景明顯區別,輪廓清晰。

可使用光源:HL-BK-50-50-W、HL-R45-70-3-W


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